Methods for rapid frequency-domain characterization of leakage currents in silicon nanowire-based field-effect transistors

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource

Erschienen in
Methods for rapid frequency-domain characterization of leakage currents in silicon nanowire-based field-effect transistors ; volume:5 ; pages:964-972
Beilstein journal of nanotechnology ; 5, 964-972

Klassifikation
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

DOI
10.3762/bjnano.5.110
URN
urn:nbn:de:101:1-20150127943
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
15.08.2025, 07:21 MESZ

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