Unravelling concurring degradation mechanisms in InGaAlP light-emitting diode structures by optical overstress experiments under reverse bias

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch

Bibliographic citation
In: Journal of Applied Physics, 114, 22, S. 223106-

Event
Veröffentlichung
(where)
Augsburg
(who)
Universität Augsburg
(when)
2013
Event
Veröffentlichung
(who)
AIP Publishing
(when)
2013
Creator
Karl, C.
Ebbecke, J.
Zeisel, R.
Wixforth, Achim

DOI
10.1063/1.4848035
URN
urn:nbn:de:bvb:384-opus4-635062
Rights
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Last update
15.08.2025, 7:21 AM CEST

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Associated

  • Karl, C.
  • Ebbecke, J.
  • Zeisel, R.
  • Wixforth, Achim
  • Universität Augsburg
  • AIP Publishing

Time of origin

  • 2013

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