Unravelling concurring degradation mechanisms in InGaAlP light-emitting diode structures by optical overstress experiments under reverse bias

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
In: Journal of Applied Physics, 114, 22, S. 223106-

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Augsburg
(wer)
Universität Augsburg
(wann)
2013
Ereignis
Veröffentlichung
(wer)
AIP Publishing
(wann)
2013
Urheber
Karl, C.
Ebbecke, J.
Zeisel, R.
Wixforth, Achim

DOI
10.1063/1.4848035
URN
urn:nbn:de:bvb:384-opus4-635062
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:53 MEZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Karl, C.
  • Ebbecke, J.
  • Zeisel, R.
  • Wixforth, Achim
  • Universität Augsburg
  • AIP Publishing

Entstanden

  • 2013

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