Unravelling concurring degradation mechanisms in InGaAlP light-emitting diode structures by optical overstress experiments under reverse bias
- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
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Online-Ressource
- Language
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Englisch
- Bibliographic citation
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In: Journal of Applied Physics, 114, 22, S. 223106-
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
-
Augsburg
- (who)
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Universität Augsburg
- (when)
-
2013
- Event
-
Veröffentlichung
- (who)
-
AIP Publishing
- (when)
-
2013
- Creator
- DOI
-
10.1063/1.4848035
- URN
-
urn:nbn:de:bvb:384-opus4-635062
- Rights
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
15.08.2025, 7:21 AM CEST
Data provider
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Associated
- Karl, C.
- Ebbecke, J.
- Zeisel, R.
- Wixforth, Achim
- Universität Augsburg
- AIP Publishing
Time of origin
- 2013