Erkennung von Strukturen und Mustern : Grundlagen u. Verfahren

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783110066036
3110066033
Maße
22 cm
Umfang
342 S.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Literaturverz. S. 320 - 339. - Lizenz d. Verl. Technik, VEB, Berlin.

Schlagwort
Mustererkennung
Technische Erkennung
Erkennung
Graphische Datenverarbeitung
Bildverarbeitung
Mustererkennung
Mustererkennung
Technische Elementarerziehung
Erkennung
Computergrafik
Bildverarbeitung

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Berlin, New York
(wer)
de Gruyter
(wann)
1976
Urheber
Peipmann, Rolf

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 14:19 MESZ

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Beteiligte

  • Peipmann, Rolf
  • de Gruyter

Entstanden

  • 1976

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