Hochschulschrift
Modellierung von Schädigungsmechanismen in Metallisierungsschichten unter schneller Temperaturwechselbelastung
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783899597936
- Dimensions
-
25 cm
- Extent
-
VIII, 148 S.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Freiburg (Breisgau), Univ., Diss., 2008
- Bibliographic citation
-
MEMS technology and engineering ; Vol. 9
- Classification
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Keyword
-
DMOS-FET
Leistungstransistor
Thermische Belastung
Zyklische Belastung
Metallisierungsschicht
Kurzschluss
DMOS-FET
Metallisierungsschicht
Thermomechanische Eigenschaft
Leiterbahn
Ratcheting
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
-
Tönning, Lübeck, Marburg
- (who)
-
Der Andere Verl.
- (when)
-
2008
- Creator
- Table of contents
- Rights
-
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- Last update
-
11.03.2025, 11:51 AM CET
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Smorodin, Tobias
- Der Andere Verl.
Time of origin
- 2008
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