Simulating the onset of damage in DCDC tests using a novel gradient‐extended damage model for tension‐compression asymmetry

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
In: 10.1002/pamm.202400062

Klassifikation
Elektrotechnik, Elektronik

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Aachen
(wer)
Universitätsbibliothek der RWTH Aachen
(wann)
2024
Urheber
Zhang, Jian
Zhang, Qinghua
Reese, Stefanie
Brepols, Tim

DOI
10.18154/RWTH-2024-10629
URN
urn:nbn:de:101:1-2411200044436.303801234574
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
15.08.2025, 07:32 MESZ

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Beteiligte

Entstanden

  • 2024

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