Hochschulschrift

Elektrochemische und oberflächenanalytische Charakterisierung von elektrochemisch dargestellten dünnen Verbindungshalbleiterschichten

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Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
21 cm
Umfang
132 S. in getr. Zählung
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
graph. Darst.
Düsseldorf, Univ., Diss., 1999

Schlagwort
Kupferselenid
Verbindungshalbleiter
Dünne Schicht
Galvanische Abscheidung
Cadmiumtellurid
Dünne Schicht
Galvanische Abscheidung

Urheber
Lippkow, Dirk

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.03.2025, 12:18 MEZ

Datenpartner

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

  • Lippkow, Dirk

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