Hochschulschrift

Elektrochemische und oberflächenanalytische Charakterisierung von elektrochemisch dargestellten dünnen Verbindungshalbleiterschichten

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Dimensions
21 cm
Extent
132 S. in getr. Zählung
Language
Deutsch
Notes
graph. Darst.
Düsseldorf, Univ., Diss., 1999

Keyword
Kupferselenid
Verbindungshalbleiter
Dünne Schicht
Galvanische Abscheidung
Cadmiumtellurid
Dünne Schicht
Galvanische Abscheidung

Creator
Lippkow, Dirk

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Last update
11.03.2025, 12:18 PM CET

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Object type

  • Hochschulschrift

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  • Lippkow, Dirk

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