Feature adaptive sampling for scanning electron microscopy

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
In: Scientific Reports 6

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Saarbrücken
(wer)
Leibniz-Institut für Neue Materialien
(wann)
2016
Urheber
Dahmen, Tim
Engstler, Michael
Pauly, Christoph
Trampert, Patrick
Jonge, Niels de
Mücklich, Frank
Slusallek, Philipp

DOI
10.1038/srep25350
URN
urn:nbn:de:bsz:291:415-3120
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:44 MEZ

Datenpartner

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Beteiligte

Entstanden

  • 2016

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