Hochschulschrift
Der Einfluss thermischer Spannungen auf die Defektstruktur in heteroepitaktischen Halbleiterfilmen
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783183358052
3183358050
- Dimensions
-
21 cm
- Extent
-
127 S.
- Edition
-
Als Ms. gedr.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 1994
- Bibliographic citation
-
Fortschrittberichte VDI / 5 / Verein Deutscher Ingenieure ; Nr. 358, Reihe 5
- Keyword
-
Halbleiterschicht
Heteroepitaxie
Silicium
Substrat
Grenzfläche
Mechanische Spannung
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
-
Düsseldorf
- (who)
-
VDI-Verl.
- (when)
-
1994
- Creator
-
Roos, Bernd
- Table of contents
- Rights
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
11.06.2025, 2:23 PM CEST
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Roos, Bernd
- VDI-Verl.
Time of origin
- 1994
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