Low-voltage ultrafast nonvolatile memory via direct charge injection through a threshold resistive-switching layer
- Standort
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                Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
 
- ISSN
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                2041-1723
 
- Umfang
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                Online-Ressource
 
- Sprache
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                Englisch
 
- Anmerkungen
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                online resource.
 
- Erschienen in
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                Low-voltage ultrafast nonvolatile memory via direct charge injection through a threshold resistive-switching layer ; volume:13 ; number:1 ; day:6 ; month:8 ; year:2022 ; pages:1-9 ; date:12.2022
Nature Communications ; 13, Heft 1 (6.8.2022), 1-9, 12.2022
 
- Urheber
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                Li, Yuan
Zhang, Zhi Cheng
Li, Jiaqiang
Chen, Xu-Dong
Kong, Ya
Wang, Fu-Dong
Zhang, Guo-Xin
Lu, Tong-Bu
Zhang, Jin
 
- Beteiligte Personen und Organisationen
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                SpringerLink (Online service)
 
- DOI
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                        10.1038/s41467-022-32380-3
 
- URN
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                        urn:nbn:de:101:1-2022102121423811223759
 
- Rechteinformation
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                        Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
 
- Letzte Aktualisierung
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                        15.08.2025, 07:34 MESZ
 
Datenpartner
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Beteiligte
- Li, Yuan
 - Zhang, Zhi Cheng
 - Li, Jiaqiang
 - Chen, Xu-Dong
 - Kong, Ya
 - Wang, Fu-Dong
 - Zhang, Guo-Xin
 - Lu, Tong-Bu
 - Zhang, Jin
 - SpringerLink (Online service)