Hochschulschrift

Electromigration in bamboo aluminum interconnects

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Dimensions
21 cm
Extent
VIII, 144 S.
Language
Englisch
Notes
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 2000

Bibliographic citation
Bericht / Max-Planck-Institut für Metallforschung ; Nr. 96

Keyword
Leiterbahn
Aluminium
Elektromigration
Bambusstruktur
Kupfer

Event
Veröffentlichung
(where)
Stuttgart
(who)
Max-Planck-Inst. für Metallforschung
(when)
2000
Creator
Witt, Christian

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Last update
11.06.2025, 1:54 PM CEST

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Object type

  • Hochschulschrift

Associated

  • Witt, Christian
  • Max-Planck-Inst. für Metallforschung

Time of origin

  • 2000

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