Hochschulschrift

Electromigration in bamboo aluminum interconnects

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
21 cm
Umfang
VIII, 144 S.
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 2000

Erschienen in
Bericht / Max-Planck-Institut für Metallforschung ; Nr. 96

Schlagwort
Leiterbahn
Aluminium
Elektromigration
Bambusstruktur
Kupfer

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Stuttgart
(wer)
Max-Planck-Inst. für Metallforschung
(wann)
2000
Urheber
Witt, Christian

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Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.03.2025, 11:53 MEZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

  • Witt, Christian
  • Max-Planck-Inst. für Metallforschung

Entstanden

  • 2000

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