Hochschulschrift

Untersuchungen an Cu-Ni- u[nd] Cu-Al-Systemen mit der Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS)

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
30 cm
Umfang
92 S.
Ausgabe
Als Ms. gedr.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
40 graph. Darst.
Parallelt.: Investigations on Cu-Ni and Cu-Al systems with secondary ion mass spectrometry (SIMS) / by H. Rodriguez-Murcia ; H. E. Beske.
Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Fak. f. Maschinenwesen, Diss. H. Rodriguez-Murcia, 1976.

Erschienen in
Berichte der Kernforschungsanlage Jülich / Kernforschungsanlage Jülich des Landes Nordrhein-Westfalen ; Nr. 1292 : Zentralabt. für Chem. Analysen

Schlagwort
Ion
Kupfer-Nickel-Legierung
Kupfer-Aluminium-Legierung
Massenspektrometrie
Nickellegierungen
Aluminiumlegierungen
Massenspektroskopie
Kupferlegierungen
Ion
Massenspektrometrie
Nickellegierung
Aluminiumlegierung
Kupferlegierung

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Jülich
(wer)
Zentralbibliothek d. Kernforschungsanlage Jülich GmbH
(wann)
1976
Urheber
Rodriguez-Murcia, Humberto
Beske, Horst E.
Beteiligte Personen und Organisationen

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Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.06.2025, 13:54 MESZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

Entstanden

  • 1976

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