Effect of SiO2 interlayer thickness in Au/SiO2/Si multilayer systems on Si sources and the formation of Au-based nanostructures
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
-
Online-Ressource, 9 Seiten
- Sprache
-
Englisch
- Erschienen in
-
In: Advanced Materials Interfaces(9), H. 2 - ISSN 2196-7350
In: Wiley-VCH, Weinheim
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Ilmenau
- (wer)
-
TU Ilmenau
- (wann)
-
2021
- Urheber
- DOI
-
10.1002/admi.202101493
- URN
-
urn:nbn:de:101:1-2023050803070908408790
- Rechteinformation
-
Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
14.08.2025, 10:58 MESZ
Datenpartner
Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
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Beteiligte
- Li, Feitao
- Oliva Ramírez, Manuel
- Wang, Dong
- Schaaf, Peter
- TU Ilmenau
Entstanden
- 2021
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