Effect of SiO2 interlayer thickness in Au/SiO2/Si multilayer systems on Si sources and the formation of Au-based nanostructures
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Extent
-
Online-Ressource, 9 Seiten
- Language
-
Englisch
- Bibliographic citation
-
In: Advanced Materials Interfaces(9), H. 2 - ISSN 2196-7350
In: Wiley-VCH, Weinheim
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
-
Ilmenau
- (who)
-
TU Ilmenau
- (when)
-
2021
- DOI
-
10.1002/admi.202101493
- URN
-
urn:nbn:de:101:1-2023050803070908408790
- Rights
-
Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
25.03.2025, 1:49 PM CET
Data provider
This object is provided by:
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Associated
- Li, Feitao
- Oliva Ramírez, Manuel
- Wang, Dong
- Schaaf, Peter
- TU Ilmenau
Time of origin
- 2021
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