Electron diffraction analysis of the structure of SiO2 gel-film

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
In: Better ceramics through chemistry IV : symposium held April 16 - 20, 1990, San Francisco, California, U.S.A / ed.: Brian J. J. Zelinski... - Pittsburgh, Pa. : Materials Research Soc., 1990, S. 429-432

Klassifikation
Naturwissenschaften
Schlagwort
Gel ; Beugung ; Elektronenbeugung

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Saarbrücken
(wer)
Saarländische Universitäts- und Landesbibliothek
(wann)
2009
Urheber
Ohsaki, Hisashi
Aegerter, Michel A.
Shichiri, Takaki

URN
urn:nbn:de:bsz:291-scidok-23032
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:42 MEZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Ohsaki, Hisashi
  • Aegerter, Michel A.
  • Shichiri, Takaki
  • Saarländische Universitäts- und Landesbibliothek

Entstanden

  • 2009

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