Hochschulschrift

Optical characterization of Ge- and InGaAs-semiconductor detectors for high accuracy optical radiant power measurements in the near infrared

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Braunschweig, Techn. Univ., Diss., 2008

Urheber

URN
urn:nbn:de:gbv:084-18079
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:48 MEZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

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