Hochschulschrift
Elektrische Charakterisierung mikroelektronischer Bauelemente mittels der Rasterkraftmikroskopie
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783183524082
3183524082
- Maße
-
21 cm
- Umfang
-
X, 124 S.
- Ausgabe
-
Als Ms. gedr.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Duisburg, Univ., Diss., 1995
- Erschienen in
-
Fortschritt-Berichte VDI / Verein Deutscher Ingenieure ; Nr. 524, Reihe 08
- Schlagwort
-
Analoge integrierte Schaltung
VLSI
Elektrische Eigenschaft
Testbarkeit
Rasterkraftmikroskopie
Fehlererkennung
Digitale integrierte Schaltung
VLSI
Elektrische Eigenschaft
Testbarkeit
Rasterkraftmikroskopie
Fehlererkennung
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Düsseldorf
- (wer)
-
VDI-Verl.
- (wann)
-
1995
- Urheber
-
Böhm, Christoph
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.03.2025, 12:19 MEZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Böhm, Christoph
- VDI-Verl.
Entstanden
- 1995
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