Metrological Protocols for Reaching Reliable and SI-Traceable Size Results for Multi-Modal and Complexly Shaped Reference Nanoparticles

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Extent
Online-Ressource
Language
Englisch

Bibliographic citation
In: Nanomaterials, 13, 6 - Special Issue "Identification and Quantification of Nanomaterials", S. 1-25

Event
Veröffentlichung
(where)
Berlin
(who)
Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)
(when)
2023
Creator
Feltin, N.
Crouzier, L.
Delvallée, A.
Pellegrino, F.
Maurino, V.
Bartczak, D.
Goenaga-Infante, H.
Taché, O.
Marguet, S.
Testard, F.
Artous, S.
Saint-Antonin, F.
Salzmann, Christoph
Deumer, Jérôme
Gollwitzer, C.
Koops, R.
Sebaïhi, N.
Fontanges, R.
Neuwirth, M.
Bergmann, D.
Hüser, D.
Klein, T.
Hodoroaba, Vasile-Dan

DOI
10.3390/nano13060993
URN
urn:nbn:de:kobv:b43-571902
Rights
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Last update
14.08.2025, 11:02 AM CEST

Data provider

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  • Feltin, N.
  • Crouzier, L.
  • Delvallée, A.
  • Pellegrino, F.
  • Maurino, V.
  • Bartczak, D.
  • Goenaga-Infante, H.
  • Taché, O.
  • Marguet, S.
  • Testard, F.
  • Artous, S.
  • Saint-Antonin, F.
  • Salzmann, Christoph
  • Deumer, Jérôme
  • Gollwitzer, C.
  • Koops, R.
  • Sebaïhi, N.
  • Fontanges, R.
  • Neuwirth, M.
  • Bergmann, D.
  • Hüser, D.
  • Klein, T.
  • Hodoroaba, Vasile-Dan
  • Bundesanstalt für Materialforschung und -prüfung (BAM)

Time of origin

  • 2023

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