Hochschulschrift
Elektronenmikroskopische Untersuchungen zur Kristallisation von Siliziumnitridschichten
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
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21 cm
- Umfang
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102 S.
- Sprache
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Deutsch
- Anmerkungen
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Ill., graph. Darst.
Dortmund, Univ., Diss., 1988
- Schlagwort
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Kristallisation
Halbleitertechnik
Siliziumnitrid
Kristallisation
Halbleitertechnologie
Silicium
- Urheber
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Bussmann, Udo
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
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- Letzte Aktualisierung
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11.03.2025, 11:48 MEZ
Datenpartner
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Bussmann, Udo