DG2GAN: improving defect recognition performance with generated defect image sample
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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1 Online-Ressource.
- Sprache
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Englisch
- Erschienen in
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DG2GAN: improving defect recognition performance with generated defect image sample ; volume:14 ; number:1 ; day:26 ; month:6 ; year:2024 ; pages:1-17 ; date:12.2024
Scientific reports ; 14, Heft 1 (26.6.2024), 1-17, 12.2024
- Urheber
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Deng, Fuqin
Luo, Jialong
Fu, Lanhui
Huang, Yonglong
Chen, Jianle
Li, Nannan
Zhong, Jiaming
Lam, Tin Lun
- Beteiligte Personen und Organisationen
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SpringerLink (Online service)
- DOI
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10.1038/s41598-024-64716-y
- URN
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urn:nbn:de:101:1-2409162112547.976438071654
- Rechteinformation
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Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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15.08.2025, 07:36 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Deng, Fuqin
- Luo, Jialong
- Fu, Lanhui
- Huang, Yonglong
- Chen, Jianle
- Li, Nannan
- Zhong, Jiaming
- Lam, Tin Lun
- SpringerLink (Online service)