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TGL 31486/07, Mikroelektronik - Messverfahren für digitale integrierte Schaltkreise - Messung des Ausgangskurzschlußstromes

zu Verbundenen Objekten

Weitere Titel
TGL 31486
Technische Normen, Gütevorschriften und Lieferbedingungen 31486/07
DDR-Standard
Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
1 Online-Ressource (3 Seiten)
Sprache
Deutsch

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Frankfurt am Main, Leipzig
(wer)
Deutsche Nationalbibliothek
(wann)
2018

URN
urn:nbn:de:101:1-2022050807525785777403
Rechteinformation
Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
15.08.2025, 07:26 MESZ

Datenpartner

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Objekttyp

  • Norm

Beteiligte

  • Deutsche Nationalbibliothek

Entstanden

  • 2018

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