- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISSN
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1543-186X
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Anmerkungen
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online resource.
- Erschienen in
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Electrical and Optical Properties of Stacking Faults in 4H-SiC Devices ; volume:39 ; number:6 ; day:26 ; month:3 ; year:2010 ; pages:684-687 ; date:6.2010
Journal of electronic materials ; 39, Heft 6 (26.3.2010), 684-687, 6.2010
- Urheber
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Chen, Bin
Chen, Jun
Sekiguchi, Takashi
Ohyanagi, Takasumi
Matsuhata, Hirofumi
Kinoshita, Akimasa
Okumura, Hajime
- Beteiligte Personen und Organisationen
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SpringerLink (Online service)
- DOI
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10.1007/s11664-010-1168-6
- URN
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urn:nbn:de:101:1-2022021317542495566995
- Rechteinformation
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Open Access; Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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15.08.2025, 07:20 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Chen, Bin
- Chen, Jun
- Sekiguchi, Takashi
- Ohyanagi, Takasumi
- Matsuhata, Hirofumi
- Kinoshita, Akimasa
- Okumura, Hajime
- SpringerLink (Online service)