Hochschulschrift
Charakterisierung dünner Edelmetallfilme auf Ruthenium-Oberflächen mittels Xenon-Adsorption und Photoelektronenspektroskopie
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
-
21 cm
- Umfang
-
194 S.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Bonn, Univ., Diss., 1994
- Schlagwort
-
Ruthenium
Kristallfläche
Edelmetall
Dünne Schicht
Xenon
Adsorption
- Urheber
-
Schick, Matthias
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.03.2025, 11:57 MEZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Schick, Matthias
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