Messung der Minoritätsträgerlebensdauer in dünnen Silicium-Epitaxieschichten

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Maße
30 cm
Umfang
53 S.
Ausgabe
Als Ms. gedr.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
graph. Darst.

Erschienen in
Forschungsbericht ; T 79,179 : Elektronik

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Eggenstein-Leopoldshafen
(wer)
Fachinformationszentrum Energie, Physik, Mathematik, Kernforschungszentrum
(wann)
1979
Urheber
Bernt, Helmut
Müller, Jürgen
Spöhrle, Hans-Peter
Beteiligte Personen und Organisationen

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.03.2025, 12:01 MEZ

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Beteiligte

Entstanden

  • 1979

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