Messung der Minoritätsträgerlebensdauer in dünnen Silicium-Epitaxieschichten
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
-
30 cm
- Umfang
-
53 S.
- Ausgabe
-
Als Ms. gedr.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
graph. Darst.
- Erschienen in
-
Forschungsbericht ; T 79,179 : Elektronik
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Eggenstein-Leopoldshafen
- (wer)
-
Fachinformationszentrum Energie, Physik, Mathematik, Kernforschungszentrum
- (wann)
-
1979
- Urheber
-
Bernt, Helmut
Müller, Jürgen
Spöhrle, Hans-Peter
- Beteiligte Personen und Organisationen
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.03.2025, 12:01 MEZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Bernt, Helmut
- Müller, Jürgen
- Spöhrle, Hans-Peter
- Deutschland. Bundesminister für Forschung und Technologie, Bundesrepublik
- Fachinformationszentrum Energie, Physik, Mathematik, Kernforschungszentrum
Entstanden
- 1979