Messung der Minoritätsträgerlebensdauer in dünnen Silicium-Epitaxieschichten

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Dimensions
30 cm
Extent
53 S.
Edition
Als Ms. gedr.
Language
Deutsch
Notes
graph. Darst.

Bibliographic citation
Forschungsbericht ; T 79,179 : Elektronik

Event
Veröffentlichung
(where)
Eggenstein-Leopoldshafen
(who)
Fachinformationszentrum Energie, Physik, Mathematik, Kernforschungszentrum
(when)
1979
Creator
Bernt, Helmut
Müller, Jürgen
Spöhrle, Hans-Peter

Table of contents
Rights
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Last update
11.03.2025, 12:01 PM CET

Data provider

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Time of origin

  • 1979

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