Verfahren zur korrekten messtechnischen Bestimmung der Hochfrequenzexposition in der Umgebung von LTE-Basisstationen

Object Details

• Location: Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
• Extent: Online-Ressource
• Language: Deutsch
• Notes: In: Wuschek, Matthias; Bornkessel, Christian: Verfahren zur korrekten messtechnischen Bestimmung der Hochfrequenzexposition in der Umgebung von LTE-Basisstationen. In: emv : Internationale Fachmesse und Kongress für Elektromagnetische Verträglichkeit. Berlin : VDE-Verlag, 2014, S. 477-485

Classification and Topics

• Classification: Elektrotechnik, Elektronik
• Keyword: Basisstation ; Immission ; Antenne ; Signal

Contributors, Places and Time

• Event: Veröffentlichung
• (where): Hannover
• (who): Gottfried Wilhelm Leibniz Universität Hannover
• (when): 2014
• Event: Veröffentlichung
• (where): Hannover
• (who): Technische Informationsbibliothek (TIB)
• (when): 2014

Further information

• DOI: 10.15488/5436
• URN: urn:nbn:de:101:1-2020062606575177101886
• Rights: Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
• Last update: 14.08.2025, 10:50 AM CEST