Hochschulschrift
Entwicklung eines schaltungsinternen Rastersonden-Spannungs-Testverfahrens
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783183961085
3183961083
- Maße
-
21 cm
- Umfang
-
X, 157 S.
- Ausgabe
-
Als Ms. gedr.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Duisburg, Univ., Diss.
- Erschienen in
-
Fortschritt-Berichte VDI / Verein Deutscher Ingenieure ; Nr. 961, Reihe 08
- Schlagwort
-
Integrierte Schaltung
Testen
Rastersondenmikroskopie
Elektrische Spannung
Messung
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
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- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 14:02 MESZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Bangert, Joachim
- VDI-Verl.
Entstanden
- 2002
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