Hochschulschrift
Optimization of yield and reliability using enhanced worst-case methods
- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
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9783844048087
3844048081
- Dimensions
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21 cm, 180 g
- Extent
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105 Seiten
- Edition
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[1. Auflage]
- Language
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Englisch
- Notes
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Illustrationen
Universität Bremen, Dissertation, 2016
- Classification
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Elektrotechnik, Elektronik
- Keyword
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Mikrosystemtechnik
MEMS
Ausbeute
Zuverlässigkeit
Toleranzanalyse
Optimierung
- Event
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Veröffentlichung
- (where)
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Aachen
- (who)
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Shaker Verlag
- (when)
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2016
- Creator
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Vudathu, Shyam Praveen
- Contributor
- Table of contents
- Rights
-
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- Last update
-
11.06.2025, 2:29 PM CEST
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Vudathu, Shyam Praveen
- Shaker Verlag
- Shaker Verlag
Time of origin
- 2016