Hochschulschrift

Optimization of yield and reliability using enhanced worst-case methods

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783844048087
3844048081
Dimensions
21 cm, 180 g
Extent
105 Seiten
Edition
[1. Auflage]
Language
Englisch
Notes
Illustrationen
Universität Bremen, Dissertation, 2016

Classification
Elektrotechnik, Elektronik
Keyword
Mikrosystemtechnik
MEMS
Ausbeute
Zuverlässigkeit
Toleranzanalyse
Optimierung

Event
Veröffentlichung
(where)
Aachen
(who)
Shaker Verlag
(when)
2016
Creator
Vudathu, Shyam Praveen
Contributor

Table of contents
Rights
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Last update
11.06.2025, 2:29 PM CEST

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Object type

  • Hochschulschrift

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Time of origin

  • 2016

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