Hochschulschrift
Verfahren zur Bestimmung der Dotierungsdichteverteilung in Siliziumscheiben mit dem Raster-Elektronenmikroskop
- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Dimensions
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30 cm
- Extent
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[7], 118 S.
- Language
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Deutsch
- Notes
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Ill., graph. Darst.
München, Techn. Univ., Fak. für Elektrotechnik, Diss., 1980
- Keyword
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Dotierung
Silizium
Dotierung
Silicium
- Creator
- Table of contents
- Rights
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- Last update
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11.06.2025, 2:04 PM CEST
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift