Hochschulschrift
HREM-Bildanalyse von III-V-Halbleiter-Schichtstrukturen durch quantitativen Bildvergleich : Experiment - Simulation
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Maße
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30 cm
- Umfang
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110 Bl.
- Sprache
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Deutsch
- Anmerkungen
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Ill., graph. Darst.
Halle, Univ., Diss., 2000
- Schlagwort
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Durchstrahlungselektronenmikroskopie
Hochauflösendes Verfahren
Drei-Fünf-Halbleiter
Schichtgitter
Silicium
Makropore
Photonischer Kristall
FT-IR-Spektroskopie
Lichtwellenleiter
- Urheber
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
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- Letzte Aktualisierung
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11.03.2025, 11:47 MEZ
Datenpartner
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Objekttyp
- Hochschulschrift