Focused ion beam-based microfabrication of boron-doped diamond single-crystal tip cantilevers for electrical and mechanical scanning probe microscopy
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Erschienen in
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In: Measurement(188, 2022)
- Ereignis
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Veröffentlichung
- (wo)
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Ilmenau
- (wer)
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TU Ilmenau
- (wann)
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2021
- Urheber
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Gacka, Ewelina
Kunicki, Piotr
Sikora, Andrzej
Bogdanowicz, Robert
Ficek, Mateusz
Gotszalk, Teodor
Rangelow, Ivo W.
Kwoka, Krzysztof
- DOI
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10.1016/j.measurement.2021.110373
- URN
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urn:nbn:de:101:1-2022031402070072648813
- Rechteinformation
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
15.08.2025, 07:35 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Gacka, Ewelina
- Kunicki, Piotr
- Sikora, Andrzej
- Bogdanowicz, Robert
- Ficek, Mateusz
- Gotszalk, Teodor
- Rangelow, Ivo W.
- Kwoka, Krzysztof
- TU Ilmenau
Entstanden
- 2021