- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783183298099
3183298090
- Maße
-
21 cm
- Umfang
-
XII, 135 S.
- Ausgabe
-
Als Ms. gedr.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
graph. Darst.
Zugl.: Duisburg, Univ., Diss., 1999
- Erschienen in
-
Fortschrittberichte VDI / 9 / Verein Deutscher Ingenieure ; Nr. 298, Reihe 9
- Schlagwort
-
EEPROM
Analogspeicher
CMOS
Degradation
Langzeitverhalten
- Ereignis
-
Veröffentlichung
- (wo)
-
Düsseldorf
- (wer)
-
VDI-Verl.
- (wann)
-
1999
- Urheber
-
Aslam-Siddiqi, Amer
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
-
11.03.2025, 12:26 MEZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Aslam-Siddiqi, Amer
- VDI-Verl.
Entstanden
- 1999
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