Hochschulschrift
Querschnitts-Raster-Tunnel-Mikroskopie an Silizium-Spaltflächen
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
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9783897226647
3897226642
- Maße
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21 cm
- Umfang
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II, 79 S.
- Sprache
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Deutsch
- Anmerkungen
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Ill., graph. Darst.
Zugl.: Cottbus, Techn. Univ., Diss., 2001
- Schlagwort
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Siliciumhalbleiter
Spaltfläche
Rastertunnelmikroskopie
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
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- Letzte Aktualisierung
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11.03.2025, 11:55 MEZ
Datenpartner
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Nuffer, Roland
- Logos-Verl.
Entstanden
- 2001