Hochschulschrift

Querschnitts-Raster-Tunnel-Mikroskopie an Silizium-Spaltflächen

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783897226647
3897226642
Maße
21 cm
Umfang
II, 79 S.
Sprache
Deutsch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Cottbus, Techn. Univ., Diss., 2001

Schlagwort
Siliciumhalbleiter
Spaltfläche
Rastertunnelmikroskopie

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Berlin
(wer)
Logos-Verl.
(wann)
2001
Urheber

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
11.03.2025, 11:55 MEZ

Datenpartner

Dieses Objekt wird bereitgestellt von:
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.

Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

Entstanden

  • 2001

Ähnliche Objekte (12)