Hochschulschrift
Korrelation von Materialqualität und Ausfallmechanismen leistungselektronischer SiC-Bauelemente
- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
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9783961476190
3961476195
- Dimensions
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24 cm
- Extent
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xviii, 243 Seiten
- Language
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Deutsch
- Notes
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Illustrationen, Diagramme
Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg, Dissertation, 2022
- Bibliographic citation
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FAU-Studien aus der Elektrotechnik ; Band 18
- Classification
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Elektrotechnik, Elektronik
- Keyword
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MOS-FET
Siliciumcarbid
Kristallzüchtung
Gitterbaufehler
Ausfallwahrscheinlichkeit
Siliciumcarbid
Homoepitaxie
Halbleitertechnologie
Materialcharakterisierung
Photolumineszenz
Defekt
Elektronisches Bauelement
- Event
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Veröffentlichung
- (where)
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Erlangen
- (who)
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FAU University Press
- (when)
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2023
- Creator
- Table of contents
- Rights
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- Last update
- 11.06.2025, 2:26 PM CEST
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Baierhofer, Daniel
- FAU University Press
Time of origin
- 2023