Hochschulschrift

Korrelation von Materialqualität und Ausfallmechanismen leistungselektronischer SiC-Bauelemente

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783961476190
3961476195
Dimensions
24 cm
Extent
xviii, 243 Seiten
Language
Deutsch
Notes
Illustrationen, Diagramme
Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg, Dissertation, 2022

Bibliographic citation
FAU-Studien aus der Elektrotechnik ; Band 18

Classification
Elektrotechnik, Elektronik
Keyword
MOS-FET
Siliciumcarbid
Kristallzüchtung
Gitterbaufehler
Ausfallwahrscheinlichkeit
Siliciumcarbid
Homoepitaxie
Halbleitertechnologie
Materialcharakterisierung
Photolumineszenz
Defekt
Elektronisches Bauelement

Event
Veröffentlichung
(where)
Erlangen
(who)
FAU University Press
(when)
2023
Creator

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Last update
11.06.2025, 2:26 PM CEST

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Object type

  • Hochschulschrift

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Time of origin

  • 2023

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