Caractérisation et poursuite du développement technologique de semi-conducteurs SiC : mémoire

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Dimensions
30 cm
Extent
38 S.
Language
Französisch
Notes
Ill., graph. Darst.

Event
Veröffentlichung
(where)
Saint-Louis, [Weil am Rhein]
(who)
ISL
(when)
2003
Creator
Hans, Patrick

Table of contents
Rights
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Last update
11.06.2025, 2:28 PM CEST

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  • Hans, Patrick
  • ISL

Time of origin

  • 2003

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