Caractérisation et poursuite du développement technologique de semi-conducteurs SiC : mémoire
- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Dimensions
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30 cm
- Extent
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38 S.
- Language
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Französisch
- Notes
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Ill., graph. Darst.
- Event
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Veröffentlichung
- (where)
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Saint-Louis, [Weil am Rhein]
- (who)
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ISL
- (when)
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2003
- Creator
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Hans, Patrick
- Table of contents
- Rights
-
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- Last update
-
11.06.2025, 2:28 PM CEST
Data provider
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Associated
- Hans, Patrick
- ISL
Time of origin
- 2003