Hochschulschrift

Zerstörungsfreie Analyse- und Prüfverfahren zur Detektion von Fehlern und Ausfällen in elektronischen Baugruppen

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783934142503
Dimensions
26 cm
Extent
XI, 212 S.
Edition
1. Aufl.
Language
Deutsch
Notes
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Dortmund, Techn. Univ., Habil.-Schr., 2014

Classification
Elektrotechnik, Elektronik
Keyword
Elektronische Baugruppe
Elektroniktechnologie
Verbindungstechnik
Miniaturisierung
Nanoelektronik
Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung
Zuverlässigkeit
Qualitätssicherung

Event
Veröffentlichung
(where)
Templin
(who)
Detert
(when)
2014
Creator

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Last update
11.06.2025, 1:53 PM CEST

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Object type

  • Hochschulschrift

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Time of origin

  • 2014

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