Hochschulschrift
Robust algorithms for high quality test pattern generation using Boolean satisfiability
- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Dimensions
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26 cm
- Extent
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VIII, 182 S.
- Language
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Englisch
- Notes
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graph. Darst.
Bremen, Univ., Diss., 2010
- Classification
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Elektrotechnik, Elektronik
- Creator
- Table of contents
- Rights
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Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
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11.06.2025, 1:49 PM CEST
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift