Investigations on Current Filaments Limiting the Safe-Operating Area of High-Voltage Trench-Insulated-Gate Bipolar Transistors
- Weitere Titel
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Untersuchungen zum Einfluss von Stromfilamentierungen auf den sicheren Arbeitsbereich von hochvolt trench-Bipolartransistoren mit isolierter Gate-Elektrode
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Englisch
- Anmerkungen
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München, Technische Universität München, Dissertation, 2022
- Klassifikation
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Elektrotechnik, Elektronik
- Schlagwort
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IGBT
Simulation
Hochspannungsbauelement
MOS-FET
Leistungshalbleiter
Kurzschluss
- Ereignis
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Veröffentlichung
- (wo)
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München
- (wer)
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Universitätsbibliothek der TU München
- (wann)
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2022
- Urheber
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Töchterle, Christopher
- Beteiligte Personen und Organisationen
- URN
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urn:nbn:de:bvb:91-diss-20220304-1577646-1-2
- Rechteinformation
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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25.03.2025, 13:47 MEZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Töchterle, Christopher
- Wachutka, Gerhard
- Lutz, Josef
- Tornow, Marc
- Universitätsbibliothek der TU München
Entstanden
- 2022