Investigations on Current Filaments Limiting the Safe-Operating Area of High-Voltage Trench-Insulated-Gate Bipolar Transistors

Weitere Titel
Untersuchungen zum Einfluss von Stromfilamentierungen auf den sicheren Arbeitsbereich von hochvolt trench-Bipolartransistoren mit isolierter Gate-Elektrode
Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
München, Technische Universität München, Dissertation, 2022

Klassifikation
Elektrotechnik, Elektronik
Schlagwort
IGBT
Simulation
Hochspannungsbauelement
MOS-FET
Leistungshalbleiter
Kurzschluss

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
München
(wer)
Universitätsbibliothek der TU München
(wann)
2022
Urheber
Töchterle, Christopher
Beteiligte Personen und Organisationen
Wachutka, Gerhard
Wachutka, Gerhard
Lutz, Josef
Tornow, Marc

URN
urn:nbn:de:bvb:91-diss-20220304-1577646-1-2
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:47 MEZ

Datenpartner

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Beteiligte

  • Töchterle, Christopher
  • Wachutka, Gerhard
  • Lutz, Josef
  • Tornow, Marc
  • Universitätsbibliothek der TU München

Entstanden

  • 2022

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