Hochschulschrift
Charakterisierung von MOVPE-II-VI-Halbleiter-Schichten mittels Röntgendiffraktometrie
- Location
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
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9783896534774
3896534777
- Dimensions
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21 cm
- Extent
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III, 147 S.
- Edition
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1. Aufl.
- Language
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Deutsch
- Notes
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Ill., graph. Darst.
Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1999
- Keyword
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Zinkselenid
Zinksulfid
Magnesiumsulfid
Magnesiumselenid
Mischkristall
Epitaxieschicht
Halbleiterschicht
Epitaxieschicht
Röntgendiffraktometrie
- Event
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Veröffentlichung
- (where)
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Aachen
- (who)
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Mainz
- (when)
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1999
- Creator
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Xu, Jun
- Table of contents
- Rights
-
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- Last update
-
11.06.2025, 2:14 PM CEST
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Xu, Jun
- Mainz
Time of origin
- 1999