Hochschulschrift

Charakterisierung von MOVPE-II-VI-Halbleiter-Schichten mittels Röntgendiffraktometrie

Location
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783896534774
3896534777
Dimensions
21 cm
Extent
III, 147 S.
Edition
1. Aufl.
Language
Deutsch
Notes
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1999

Keyword
Zinkselenid
Zinksulfid
Magnesiumsulfid
Magnesiumselenid
Mischkristall
Epitaxieschicht
Halbleiterschicht
Epitaxieschicht
Röntgendiffraktometrie

Event
Veröffentlichung
(where)
Aachen
(who)
Mainz
(when)
1999
Creator
Xu, Jun

Table of contents
Rights
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
Last update
11.06.2025, 2:14 PM CEST

Data provider

This object is provided by:
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.

Object type

  • Hochschulschrift

Associated

  • Xu, Jun
  • Mainz

Time of origin

  • 1999

Other Objects (12)