Raster-Elektronenmikroskop ermöglicht Untersuchungen mit höchster Auflösung und Präzision

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Deutsch

Erschienen in
Raster-Elektronenmikroskop ermöglicht Untersuchungen mit höchster Auflösung und Präzision ; 2011, S. 60
Beiträge aus Forschung und Technik ... / Hochschule Offenburg ; 2011, S. 60

Klassifikation
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Schlagwort
Rasterelektronenmikroskop

Urheber
Großhans, Walter A.

URN
urn:nbn:de:bsz:ofb1-opus-1207
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
14.08.2025, 10:49 MESZ

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Beteiligte

  • Großhans, Walter A.

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