Raster-Elektronenmikroskop ermöglicht Untersuchungen mit höchster Auflösung und Präzision
- Standort
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Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Umfang
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Online-Ressource
- Sprache
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Deutsch
- Erschienen in
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Raster-Elektronenmikroskop ermöglicht Untersuchungen mit höchster Auflösung und Präzision ; 2011, S. 60
Beiträge aus Forschung und Technik ... / Hochschule Offenburg ; 2011, S. 60
- Klassifikation
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Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
- Schlagwort
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Rasterelektronenmikroskop
- Urheber
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Großhans, Walter A.
- URN
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urn:nbn:de:bsz:ofb1-opus-1207
- Rechteinformation
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Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Letzte Aktualisierung
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14.08.2025, 10:49 MESZ
Datenpartner
Deutsche Nationalbibliothek. Bei Fragen zum Objekt wenden Sie sich bitte an den Datenpartner.
Beteiligte
- Großhans, Walter A.