Characterization of thin-film adhesion and phonon lifetimes in Al/Si membranes by picosecond ultrasonics

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch

Erschienen in
In: New Journal of Physics ; 19 (2017), 5. - 053019. - eISSN 1367-2630

Klassifikation
Physik

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Konstanz
(wer)
Bibliothek der Universität Konstanz
(wann)
2017
Urheber
Grossmann, Martin
Schubert, Martin
He, Chuan
Brick, Delia
Scheer, Elke
Hettich, Mike
Gusev, Vitalyi
Dekorsy, Thomas

URN
urn:nbn:de:bsz:352-0-408029
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
25.03.2025, 13:45 MEZ

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Beteiligte

Entstanden

  • 2017

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