Subnanometer localization accuracy in widefield optical microscopy

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISSN
2047-7538
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Englisch
Anmerkungen
online resource.

Erschienen in
Subnanometer localization accuracy in widefield optical microscopy ; volume:7 ; number:1 ; day:11 ; month:7 ; year:2018 ; pages:1-15 ; date:12.2018
Light ; 7, Heft 1 (11.7.2018), 1-15, 12.2018

Klassifikation
Physik

Urheber
Copeland, Craig R.
Beteiligte Personen und Organisationen
Geist, Jon
McGray, Craig D.
Aksyuk, Vladimir A.
Liddle, J. Alexander
Ilic, B. Robert
Stavis, Samuel M.
SpringerLink (Online service)

DOI
10.1038/s41377-018-0031-z
URN
urn:nbn:de:101:1-2018091620590307740378
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
15.08.2025, 07:22 MESZ

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Beteiligte

  • Copeland, Craig R.
  • Geist, Jon
  • McGray, Craig D.
  • Aksyuk, Vladimir A.
  • Liddle, J. Alexander
  • Ilic, B. Robert
  • Stavis, Samuel M.
  • SpringerLink (Online service)

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