Hochschulschrift | Online-Publikation
Bestimmung der stöchiometrischen Zusammensetzung von Hochtemperatur-Supraleitern mittels ICP-Atomemissionsspektrometrie und Röntgenfluoreszenzanalyse
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Dateiformat: PDF
Dortmund, Univ., Diss., 2000
- Keyword
-
Hochtemperatursupraleiter
Stöchiometrie
ICP-Atomemissionsspektroskopie
- Creator
-
Geilenberg, Dirk
- Handle
-
2003/2412
- URN
-
urn:nbn:de:101:1-201011012785
- Rights
-
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
25.03.2025, 1:49 PM CET
Data provider
This object is provided by:
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Object type
- Hochschulschrift
- Online-Publikation
Associated
- Geilenberg, Dirk
Other Objects (12)
Grenzflächeneffekte zwischen Hochtemperatur-Supraleitern und Normalleitern
Bestimmung der stöchiometrischen Zusammensetzung von Hochtemperatur-Supraleitern mittels ICP-Atomemissionsspektrometrie und Röntgenfluoreszenzanalyse
Strukturelle und dynamische Eigenschaften der Vortex-Materie in Hochtemperatur-Supraleitern
Hochfrequenzresonatoren und -filter aus Hochtemperatur-Supraleitern (HTSL) für Anwendungen mit hoher Mikrowellenleistung
Hochfrequenzverhalten gekoppelter und ungekoppelter Josephson-Kontakte auf der Basis von Hochtemperatur-Supraleitern
Präparation und Charakterisierung von Selten-Erd-dotierten Nickelaten und einkristallinen, elektronendotierten Hochtemperatur-Supraleitern
Beiträge zur räumlich aufgelösten Analyse mittels Scanning- Laserablation-ICP-Massenspektrometrie unter besonderer Berücksichtigung von Schichtsystemen und Supraleitern
Ultraschallmessungen an Hochtemperatur-Supraleitern
Molekularstrahlepitaxie von Hochtemperatur-Supraleitern
Hochfrequenzuntersuchungen an niedrigdimensionalen Supraleitern
Mikrowellenabsorption zur Leitfähigkeitsbestimmung von Supraleitern
Interkalation von keramischen Hochtemperatur-Supraleitern
Grenzflächeneffekte zwischen Hochtemperatur-Supraleitern und Normalleitern
Bestimmung der stöchiometrischen Zusammensetzung von Hochtemperatur-Supraleitern mittels ICP-Atomemissionsspektrometrie und Röntgenfluoreszenzanalyse
Strukturelle und dynamische Eigenschaften der Vortex-Materie in Hochtemperatur-Supraleitern
Hochfrequenzresonatoren und -filter aus Hochtemperatur-Supraleitern (HTSL) für Anwendungen mit hoher Mikrowellenleistung
Hochfrequenzverhalten gekoppelter und ungekoppelter Josephson-Kontakte auf der Basis von Hochtemperatur-Supraleitern
Präparation und Charakterisierung von Selten-Erd-dotierten Nickelaten und einkristallinen, elektronendotierten Hochtemperatur-Supraleitern
Beiträge zur räumlich aufgelösten Analyse mittels Scanning- Laserablation-ICP-Massenspektrometrie unter besonderer Berücksichtigung von Schichtsystemen und Supraleitern
Ultraschallmessungen an Hochtemperatur-Supraleitern
Molekularstrahlepitaxie von Hochtemperatur-Supraleitern
Hochfrequenzuntersuchungen an niedrigdimensionalen Supraleitern
Mikrowellenabsorption zur Leitfähigkeitsbestimmung von Supraleitern
Interkalation von keramischen Hochtemperatur-Supraleitern
Grenzflächeneffekte zwischen Hochtemperatur-Supraleitern und Normalleitern
Bestimmung der stöchiometrischen Zusammensetzung von Hochtemperatur-Supraleitern mittels ICP-Atomemissionsspektrometrie und Röntgenfluoreszenzanalyse
Strukturelle und dynamische Eigenschaften der Vortex-Materie in Hochtemperatur-Supraleitern
Hochfrequenzresonatoren und -filter aus Hochtemperatur-Supraleitern (HTSL) für Anwendungen mit hoher Mikrowellenleistung
Hochfrequenzverhalten gekoppelter und ungekoppelter Josephson-Kontakte auf der Basis von Hochtemperatur-Supraleitern
Präparation und Charakterisierung von Selten-Erd-dotierten Nickelaten und einkristallinen, elektronendotierten Hochtemperatur-Supraleitern
Beiträge zur räumlich aufgelösten Analyse mittels Scanning- Laserablation-ICP-Massenspektrometrie unter besonderer Berücksichtigung von Schichtsystemen und Supraleitern
Ultraschallmessungen an Hochtemperatur-Supraleitern
Molekularstrahlepitaxie von Hochtemperatur-Supraleitern
Hochfrequenzuntersuchungen an niedrigdimensionalen Supraleitern
Mikrowellenabsorption zur Leitfähigkeitsbestimmung von Supraleitern