Modeling of bias-induced changes of organic field-effect transistor characteristics

zu Verbundenen Objekten

Standort: Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main

Umfang: Online-Ressource

Sprache: Englisch

Klassifikation: Elektrotechnik, Elektronik

Ereignis: Veröffentlichung

(wo): Augsburg

(wer): Universität Augsburg

(wann): 2011

Ereignis: Veröffentlichung

(wo): Eindhoven

(wer): Technische Universiteit Eindhoven

(wann): 2011

Urheber: Sharma, Abhinav

DOI: 10.6100/IR712654

URN: urn:nbn:de:bvb:384-opus4-1039584

Rechteinformation: Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.

Letzte Aktualisierung: 15.08.2025, 07:27 MESZ

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Beteiligte

Sharma, Abhinav
Universität Augsburg
Technische Universiteit Eindhoven

Entstanden

2011

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