Optische Mikroprofilometrie und Rauheitsmessung

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
Umfang
Online-Ressource
Sprache
Deutsch

Erschienen in
In: Technisches Messen 54 (1987), S. 243-252

Klassifikation
Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Schlagwort
Rauigkeitsmessung
Profil
Rille
Bild
Profil ; Speckle-Interferometrie

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Stuttgart
(wer)
Universitätsbibliothek der Universität Stuttgart
(wann)
2011
Urheber

DOI
10.18419/opus-4334
URN
urn:nbn:de:bsz:93-opus-61065
Rechteinformation
Der Zugriff auf das Objekt ist unbeschränkt möglich.
Letzte Aktualisierung
14.08.2025, 10:59 MESZ

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Beteiligte

Entstanden

  • 2011

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