Hochschulschrift
Simulation integrierter MOS-Schaltungen : Miniaturisierungseffekte und Lebensdauer
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783896530158
3896530151
- Dimensions
-
21 cm
- Extent
-
II, 115 S.
- Edition
-
1. Aufl.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
graph. Darst.
Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 1995
- Keyword
-
MOS-Schaltung
MOS-FET
Miniaturisierung
MOS-Schaltung
MOS-FET
Degradation
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
-
Aachen
- (who)
-
Mainz
- (when)
-
1996
- Creator
-
Kwasniok, Thomas
- Table of contents
- Rights
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
11.06.2025, 2:26 PM CEST
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Kwasniok, Thomas
- Mainz
Time of origin
- 1996
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Kleinsignal- und Rauschcharakterisierung von MOS-Feldeffekttransistoren zur Realisierung rauscharmer Verstärker
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