Hochschulschrift
Zerstörungsfreie Eigenspannungsbestimmung für die Zuverlässigkeitsbewertung 3D-integrierter Kontaktstrukturen in Silizium
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783941003941
- Dimensions
-
22 cm
- Extent
-
IX, 141 S.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Chemnitz, Techn. Univ., Diss., 2013
- Classification
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Keyword
-
System-in-Package
Dreidimensionale Integration
Bonden
Silicium
Eigenspannung
Spannungsanalyse
Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung
Röntgenographie
Finite-Elemente-Methode
Zuverlässigkeit
Integration
Röntgenbeugung
Simulation
Beugung
Spannungsanalyse
Eigenspannung
- Table of contents
- Rights
-
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- Last update
-
11.03.2025, 12:24 PM CET
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Zschenderlein, Uwe
- Univ.-Verl.
Time of origin
- 2014
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