Hochschulschrift
Zerstörungsfreie Eigenspannungsbestimmung für die Zuverlässigkeitsbewertung 3D-integrierter Kontaktstrukturen in Silizium
- Standort
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783941003941
- Maße
-
22 cm
- Umfang
-
IX, 141 S.
- Sprache
-
Deutsch
- Anmerkungen
-
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Chemnitz, Techn. Univ., Diss., 2013
- Klassifikation
-
Elektrotechnik, Elektronik
- Schlagwort
-
System-in-Package
Dreidimensionale Integration
Bonden
Silicium
Eigenspannung
Spannungsanalyse
Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung
Röntgenographie
Finite-Elemente-Methode
Zuverlässigkeit
Integration
Röntgenbeugung
Simulation
Beugung
Spannungsanalyse
Eigenspannung
- Inhaltsverzeichnis
- Rechteinformation
-
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- Letzte Aktualisierung
-
11.06.2025, 13:37 MESZ
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Objekttyp
- Hochschulschrift
Beteiligte
- Zschenderlein, Uwe
- Univ.-Verl.
Entstanden
- 2014
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