Reliability and maintainability of electronic systems

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783540125815
3540125817
Maße
25 cm
Umfang
XIII, 584 S.
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Literaturangaben

Schlagwort
Technische Zuverlässigkeit
Instandhaltung
Elektronik
Instandhaltung
Elektronische Datenverarbeitung
Zuverlässigkeit
Zuverlässigkeit
Instandhaltung
Elektronik
Datenverarbeitung

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Rockville, Maryland, Berlin, Heidelberg, New York, Tokyo
(wer)
Computer Science Pr., Springer
(wann)
[1981]
Beteiligte Personen und Organisationen

Inhaltsverzeichnis
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Letzte Aktualisierung
11.03.2025, 11:50 MEZ

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Beteiligte

Entstanden

  • [1981]

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