Hochschulschrift

Copper and hydrogen related defects in silicon

Standort
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
ISBN
9783832500849
3832500847
Maße
21 cm
Umfang
VI, 110 S.
Sprache
Englisch
Anmerkungen
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Dresden, Techn. Univ., Diss., 2002

Schlagwort
Silicium
Störstelle
Kupfer
Wasserstoff
DLTS

Ereignis
Veröffentlichung
(wo)
Berlin
(wer)
Logos-Verl.
(wann)
2002
Urheber

Inhaltsverzeichnis
Rechteinformation
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Letzte Aktualisierung
11.03.2025, 12:09 MEZ

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Objekttyp

  • Hochschulschrift

Beteiligte

Entstanden

  • 2002

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