Hochschulschrift
Schnelle Simulation der Verlustleistung und der Zuverlässigkeit von hochintegrierten CMOS-Schaltkreisen auf Gatterebene
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783826516023
3826516028
- Dimensions
-
21 cm
- Extent
-
VIII, 117 S.
- Edition
-
Als Ms. gedr.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
graph. Darst.
Zugl.: München, Techn. Univ., Diss., 1996
- Keyword
-
CMOS-Schaltung
VLSI
Verknüpfungsglied
Verlustleistung
Zuverlässigkeit
- Event
-
Veröffentlichung
- (where)
-
Aachen
- (who)
-
Shaker
- (when)
-
1996
- Creator
-
Eisenmann, Wolfgang
- Table of contents
- Rights
-
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- Last update
- 11.06.2025, 2:26 PM CEST
Data provider
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Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Eisenmann, Wolfgang
- Shaker
Time of origin
- 1996
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