Hochschulschrift
Über die elektrische Leitfähigkeit ultradünner Filme aus Silber, Blei und Gold auf Silizium (111)
- Location
-
Deutsche Nationalbibliothek Frankfurt am Main
- ISBN
-
9783181459096
3181459097
- Dimensions
-
21 cm
- Extent
-
X, 165 S.
- Edition
-
Als Ms. gedr.
- Language
-
Deutsch
- Notes
-
Ill., graph. Darst.
Zugl.: Diss.
- Bibliographic citation
-
Fortschrittberichte VDI / 9 / Verein Deutscher Ingenieure ; Nr. 159, Reihe 9
- Keyword
-
Silicium
Silber
Dünne Schicht
Elektrische Leitfähigkeit
Hall-Effekt
Magnetowiderstand
Silicium
Blei
Dünne Schicht
Elektrische Leitfähigkeit
Hall-Effekt
Magnetowiderstand
Silicium
Gold
Dünne Schicht
Elektrische Leitfähigkeit
Hall-Effekt
Magnetowiderstand
- Table of contents
- Rights
-
Bei diesem Objekt liegt nur das Inhaltsverzeichnis digital vor. Der Zugriff darauf ist unbeschränkt möglich.
- Last update
-
11.03.2025, 11:38 AM CET
Data provider
This object is provided by:
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Deutsche Nationalbibliothek. If you have any questions about the object, please contact the data provider.
Object type
- Hochschulschrift
Associated
- Heun, Stefan
- VDI-Verl.
Time of origin
- 1993
Other Objects (12)
Leitfähigkeit ultradünner epitaktischer Silberschichten auf Silizium (111)
Wachstum und Leitfähigkeit ultradünner Nickelsilizidschichten
Transportphänomene ultradünner Silberschichten auf Silizium (111)
Die Leitfähigkeit ultradünner, durch Tantalaufdampfung im Vakuum gewonnener Schichten
Dreidimensionale Aufbautechnik ultradünner Silizium Chips mit vertikaler Durchkontaktierung
Elektrische Leitfähigkeit der Defektelektronen im Silizium
Elektronenspinresonanz und spinabhängige Leitfähigkeit von amorphem Silizium
Strukturelle Untersuchungen zur Heteroepitaxie : Wachstum ultradünner Silberschichten auf Silizium(111)-7x7-Substraten
Ein UHV-System zur Präparation und Analyse ultradünner dielektrischer Schichten auf Silizium
Untersuchung ultradünner Silizium-Chips in flexiblen Foliensystemen für die sensorische Anwendung im industriellen Umfeld
Spinabhängige Änderungen der elektrischen Leitfähigkeit im Oberflächenbereich von einkristallinem Silizium
Adsorbat-modifiziertes Wachstum ultradünner Seltenerdoxid-Filme auf Silizium und komplementäre Studien von Ceroxid auf Ruthenium
Leitfähigkeit ultradünner epitaktischer Silberschichten auf Silizium (111)
Wachstum und Leitfähigkeit ultradünner Nickelsilizidschichten
Transportphänomene ultradünner Silberschichten auf Silizium (111)
Die Leitfähigkeit ultradünner, durch Tantalaufdampfung im Vakuum gewonnener Schichten
Dreidimensionale Aufbautechnik ultradünner Silizium Chips mit vertikaler Durchkontaktierung
Elektrische Leitfähigkeit der Defektelektronen im Silizium
Elektronenspinresonanz und spinabhängige Leitfähigkeit von amorphem Silizium
Strukturelle Untersuchungen zur Heteroepitaxie : Wachstum ultradünner Silberschichten auf Silizium(111)-7x7-Substraten
Ein UHV-System zur Präparation und Analyse ultradünner dielektrischer Schichten auf Silizium
Untersuchung ultradünner Silizium-Chips in flexiblen Foliensystemen für die sensorische Anwendung im industriellen Umfeld
Spinabhängige Änderungen der elektrischen Leitfähigkeit im Oberflächenbereich von einkristallinem Silizium
Adsorbat-modifiziertes Wachstum ultradünner Seltenerdoxid-Filme auf Silizium und komplementäre Studien von Ceroxid auf Ruthenium
Leitfähigkeit ultradünner epitaktischer Silberschichten auf Silizium (111)
Wachstum und Leitfähigkeit ultradünner Nickelsilizidschichten
Transportphänomene ultradünner Silberschichten auf Silizium (111)
Die Leitfähigkeit ultradünner, durch Tantalaufdampfung im Vakuum gewonnener Schichten
Dreidimensionale Aufbautechnik ultradünner Silizium Chips mit vertikaler Durchkontaktierung
Elektrische Leitfähigkeit der Defektelektronen im Silizium
Elektronenspinresonanz und spinabhängige Leitfähigkeit von amorphem Silizium
Strukturelle Untersuchungen zur Heteroepitaxie : Wachstum ultradünner Silberschichten auf Silizium(111)-7x7-Substraten
Ein UHV-System zur Präparation und Analyse ultradünner dielektrischer Schichten auf Silizium
Untersuchung ultradünner Silizium-Chips in flexiblen Foliensystemen für die sensorische Anwendung im industriellen Umfeld
Spinabhängige Änderungen der elektrischen Leitfähigkeit im Oberflächenbereich von einkristallinem Silizium